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红外测温仪,红外热成像滤光片,硅片

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详细说明

    品牌:XZOP

材质:硅

光洁度:60/40或者40/20

形状:方/圆/异性

标准:美军标

简介:硅窗口可分为镀膜和不镀膜两种,根据客户的要求加工,它适合用于1.2-8μm区域的近红外波段。因为硅材料具有密度小的特点(其密度是锗材料或硒化锌材料的一半),在一些对重量要求敏感的场合尤为适用,特别在3-5um波段的应用。硅的努氏硬度为1150,比锗硬,没有锗易碎。然而,由于它在9um处有强的吸收带,因此并不适合用于二氧化碳激光器的透射应用。



产品详情:

硅(Si)单晶是一种化学惰性材料,硬度高,不溶于水.它在1-7μm波段具有很好的透光性能, 同时它在远红外波段300-300μm也具有很好的透光性能,这是其它光红外材料所不具有的特点。硅(Si)单晶通常用于3-5μm中波红外光学窗口和光学滤光片的基片.由于该材料导热性能好, 密度低,也是制作激光反射镜或红外测温及红外光学镜片的常用材料,产品可镀膜,也可以不镀膜。



应用领域:

红外测温仪,红外热像仪,红外镜头等。

 
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